同－生产条件下生产的－批电子元件，任意抽取－件测试其寿命，事件A＝“测得时间小于1 800小时”，事件B＝“测得时间大于1&nbs-考呗网题库移动版

单选题同－生产条件下生产的－批电子元件，任意抽取－件测试其寿命，事件A＝“测得时间小于1 800小时”，事件B＝“测得时间大于1 000小时”，A n B等于（　　）。

A．{x：x>1 000}
B．{x：x>1 800}
C．{x：1 000<x<1 800}，
D．{x：x<1 800}

参考答案C

解析:暂无解析

单选题
．

A．0．4
B．0．5
C．0．6
D．0．7

单选题

（　　）

A．E(X)=－0.1
B．E(2X)=－0.2
C．E(3X+1)=0.4
D．E(4X－2)=1.2

单选题

A．0．4
B．0．5
C．1．4
D．1．5